В учебнике подробно рассмотрены основы структурной кристаллографии и кристаллохимии физика дифракци рентгеновских лучей нейронов и электронов анализа атомного строения веществ. Особое внимание уделено достоверности и точности результатов структруного анализа. Учебник может быть использован при подготовке студентов и аспирантов физических химических геологических биологических и материаловедческих специальностей а также инженерами и научными работниками занимающимися разработкой новых матреалов различного применения.