Величко, Александр Андреевич. Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии [электронный ресурс]: Учебно-методическая литература / А. А. Величко, Б. Б. Кольцов. — Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет (НГТУ), 2012 — 28 с. — ВО - Бакалавриат. — <URL:https://znanium.com/catalog/document?id=2771>. — <URL:https://znanium.com/cover/0546/546011.jpg>.

Record create date: 1/19/2023

Subject: Радиоэлектроника. Автоматика. Связь — Микроэлектроника. Наноэлектроника

Collections: ЭБС "Znanium.com"