В учебном пособии рассмотрены элементы теории резонансной спектроскопии для структурного анализа. Описаны методы структурного анализа от упругого рассеяния электромагнитного излучения рентгеновская дифрактометрия и краткой теории малоуглового рентгеновского рассеяния наноструктур к широкоприменяемым в практике методам ЯМР и ЭПР. Такое объединение материала выделяет данное учебное пособие тем, что в нем последовательно рассматриваются методы структурного анализа от классических систем к квантовым.